ISBN 978-3-8439-0557-2

978-3-8439-0557-2, Reihe Elektrotechnik

Marc Arabackyj
Steigerung der Qualität des Fertigungstests integrierter Schaltungen durch IDDT-Verfahren

204 Seiten, Dissertation Universität Erlangen-Nürnberg (2012), Softcover, A5

Zusammenfassung / Abstract

In dieser Arbeit werden Testverfahren, die auf der Auswertung des transienten Verhaltens des Versorgungsstroms integrierter Schaltungen beruhen, für verschiedene Anwendungen analysiert und im Hinblick auf ihre Leistungsfähigkeit für den praktischen Einsatz optimiert.

Zu einem Verfahren, das den Versorgungsstrom während des Betriebs auswertet, werden Untersuchungen mit einem Produktionstestsystem an kommerziellen, überwiegend digitalen ICs durchgeführt und gezeigt, dass das Verfahren erfolgreich mit dem bisherigen Standard-Produktionstest korreliert werden kann. Dies gelingt mit einem neuen Ansatz zur Bestimmung einer adaptiven Testentscheidungsschwelle, wodurch eine erhöhte Testschärfe erzielt wird, ohne dass gleichzeitig die Ausbeuteverluste durch falsche Testentscheidungen signifikant steigen.

Ein weiteres Verfahren, das den Versorgungsstrom während kontrollierter Ein- und Ausschaltvorgänge der Versorgungsspannung auswertet und sich besonders für analoge und mixed-signal Schaltungen eignet, wird im Hinblick auf seine Eignung für die industrielle Praxis optimiert. Bei diesem Verfahren wird durch Annahme modellhafter, analoger Defekte ausschließlich die Struktur der Schaltung überprüft, d.h. der Testentwurf setzt keine Kenntnis der Schaltungsfunktionalität voraus. Hierzu wird ein ebenfalls neuer Ansatz zur Auswahl optimaler Abtastzeitpunkte vorgestellt und in dessen Anwendung auf eine Beispielschaltung erfolgreich gezeigt, dass eine gestiegene Testqualität und zugleich geringere Anforderungen an die Leistungsfähigkeit der eingesetzten Messinstrumente daraus resultieren. Darüber hinaus wird eine Kos- tenreduzierung beim Test erreicht.