ISBN 978-3-8439-2834-2

978-3-8439-2834-2, Reihe Mikrosystemtechnik

Armin Grünewald
Anwendungsspezifische Technologie- und Testauswahl für die Entwicklung von 3D-Systemen

186 Seiten, Dissertation Universität Siegen (2016), Hardcover, B5

Zusammenfassung / Abstract

Neuartige mikroelektronische Anwendungen, angefangen von immer leistungsfähigeren Smartphones und ergänzt von einer ganzen Generation neuer Geräte durch das sogenannte "Internet der Dinge", erfordern neue Technologien. Um den kommenden Anforderungen gerecht zu werden, ist die 3D-Integration, und damit die vertikale Stapelung von Chips, ein möglicher Lösungsweg.

In dieser Arbeit werden Modelle und Softwarewerkzeuge für die Technologie- und Testauswahl vorgestellt, welche dem Systemingenieur bei der Entwicklung von 3D-Systemen Unterstützung bieten. Dies ist erforderlich, da der Entwurf derartiger komplexer Systeme nicht losgelöst von der Technologie und dem Test betrachtet werden kann. Zur Abdeckung der ökonomischen Aspekte der Systementwicklung und zum Vergleich von verschiedenen Prozess- und Testabläufen wird zudem ein umfassendes 3D-Kostenmodell präsentiert. Ausgangspunkt der Arbeit ist eine gründliche Analyse der Technologie, der Testmöglichkeiten und der Kosten von 3D-Systemen.